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怎样正确选择试验方案?
更新更新时间:2019-08-23   点击次数:1434次

分布假设的选择

在选择试验方案时,无论选择定时截尾试验方案、定数截尾试验方案或概率比序贯试验 方案中的哪一种,首先应假设设备的失效随时间的分布规律是服从什么样的分布规律。一般 应考虑选择下列的分布形式。

指数式分布:在失效率是一个常数时使用。就许多设备来说,早期失效区(失效率下降) 之后和耗损失效区(失效率上升)之前有一个偶然失效区,设备在这个区域工作时,失效率 是一个常数。一般情况下,设备在经过一段时间的使用、维修保养之后,性能比较稳定,在 一个相当长的时间内失效率是恒定的。

威布尔分布:在失效率是增长的或下降的时期使用。复杂设备的失效率可以是下降的, 然而,具有耗损机理的设备和不可修复的贮存单元比重比较大的设备的失效率却是增长的。 因此,威布尔分布在很多场合下应用是有的。然而就统计程序来说,这种分布不如指数分布 和正态分布应用那么广泛。

正态分布:当失效率是增长的,而且失效随时间的分布规律近似于高斯分布时使用。尽 管经过适当地选择参数,可以用威布尔分布近似地代替正态分布。然而,还是采用正态分布 要比威布尔分布*痹多,因为在瘕设正态分布的基础上很多统计方法都可以利用。

对于电子设备来说,根据国内外大量的实践经验证明;一般电子设备通过老嫌措施或经 过一段使用期后,基本上是服从指数分布的。因此,本书介绍的甙验方案的设计方法,推荐 的标准型试验方案,以及设备可靠性试验验证值的计算方法,都是基于失效随时间的分布规 律服从指数分布这一假设的。就是认为设备在搞然失效区工作,设备可靠度函数是指数律 的。如果不是假诙它服从指数分布,试验方案的设计方法,判决标准及所需求的试验时间, 以及试验的观rBF值的计算方法,也都不一样了。关于非指数分布的试验方桊的设计及验 证值的计算方法等,目前电工委员会的有些工作组及我国的有关部门正在研制中。

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