高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的 一项测试箱。
 
        高低温冲击试验箱分为高温箱，低温箱，测试箱三部分，采  之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷，热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。采用采用 先 进的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单，学习容易，稳定可靠。中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定，冲击时间999h59min。     可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。
 
        高低温冲击试验箱可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜。出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10s内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。每个产品都根据客户的要求订做，保证了设备的高效节能，并在现场调试和验收，保证用户方的使用性能。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时，萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法，并于发现输入电力不稳定时，具有紧急停机装置 。
 
一、试验目的
 
  确定设备(产品)在周围大气温度急剧变化时的适应性。
 
 二、试验条件
 
1、试验温度：高温为70℃;低温为-55℃。   2、试验温度保持时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准。   3、转换时间：＜5min。   4、循环次数：3次。
 
 三、对试验箱(室)的要求
 
本标准应用冷热冲击试验箱(室)或采用高温试验箱(室)和低温试验箱(室)进行冷热冲击试验，以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。  
 
 1、高温试验箱(室)的要求，应符合GJB150.3-86《 设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。
 
 2、低温试验箱(室)的要求，应符合GJB150.4-86《 设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。
 
 3、冷热冲击试验箱(室)提供高温试验部分和低温试验部分，应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。
 
 4、试验箱(室)的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱(室)温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。

四、恢复试验样品
        从试验箱(室)内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

高低温冲击试验箱用途：
 
  高低温冲击试验箱适用于科研、学校、工厂等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。
 
高低温冲击试验箱符合标准：
 
高低温冲击试验箱符合GJB150.3 设备环境试验方法-高温试验、GJB150.4 设备环境试验方法-低温试验、GJB150.5 环境试验方法温度冲击试验、GB/T2423.1低温试验方法、GB/T2423.2高温试验方法、GB10592高低温试验箱技术条件等国家标准。